Distinction of different Laves phase types by EBSD in a TiCr diffusion couple : Robust detection of subtle difference in EBSD pattern

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Distinction of different Laves phase types by EBSD in a TiCr diffusion couple : Robust detection of subtle difference in EBSD pattern

著者

和文:	Stefan Zaefferer, 石川茂浩, Frank Stein.
英文:	Stefan Zaefferer, Shigehiro Ishikawa, Frank Stein.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Electron Backscatter Diffraction Meeting, RMS conference

巻, 号, ページ

出版年月

2008年3月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Electron Backscatter Diffraction Meeting, RMS conference

開催地

和文:
英文:	Sheffield, UK