Test Collections for Patent-to-Patent Retrieval and Patent Map Generation in NTCIR-4 Workshop

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Test Collections for Patent-to-Patent Retrieval and Patent Map Generation in NTCIR-4 Workshop

著者

和文:	藤井敦, 岩山真, 神門典子.
英文:	Atsushi Fujii, Makoto Iwayama, Noriko Kando.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of the 4th International Conference on Language Resources and Evaluation

巻, 号, ページ

pp. 1643-1646

出版年月

2004年5月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文: