Accurate array-based measurement for subthreshold-current of MOS

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Accurate array-based measurement for subthreshold-current of MOS

著者

和文:	佐藤高史, 植山寛之, 中山範明, 益一哉.
英文:	Takashi Sato, Hiroyuki Ueyama, Noriaki Nakayama, Kazuya Masu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Journal of Solid-State Circuits

巻, 号, ページ

Vol. 44 No. 11 pp. 2977-2986

出版年月

2009年11月

出版者

和文:
英文:	IEEE Journal of Solid-State Circuits

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI