XPS Study of the Bonding Properties of Lanthanum Oxide/Silicon Interface with a Trace Amount of Nitrogen Incorporation

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	XPS Study of the Bonding Properties of Lanthanum Oxide/Silicon Interface with a Trace Amount of Nitrogen Incorporation

著者

和文:	H. Wong, 岩井洋, 角嶋邦之, B.L. Yang, P.K. Chu.
英文:	H. Wong, HIROSHI IWAI, Kuniyuki KAKUSHIMA, B.L. Yang, P.K. Chu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Electrochemical Society

巻, 号, ページ

G49-G51

出版年月

2010年

出版者

和文:
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会議名称

和文:
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開催地

和文:
英文:

DOI