Analysis of Remote Coulomb Scattering Limited Mobility in MOSFETs with CeO2/La2O3 Gate Stacks

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis of Remote Coulomb Scattering Limited Mobility in MOSFETs with CeO2/La2O3 Gate Stacks

著者

和文:	M.Mamatrishat, 幸田みゆき, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, 筒井一生, 杉井信之, 名取研二, 服部健雄, 岩井洋.
英文:	M.Mamatrishat, Miyuki Kouda, Kuniyuki KAKUSHIMA, Ahmet Parhat, KAZUO TSUTSUI, Nobuyuki Sugii, KENJI NATORI, takeo hattori, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

vol. 25 No. 7 pp. 253-257

出版年月

2009年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	ECS 216th Meeting

開催地

和文:
英文:	Vienna, Austria

DOI