Evaluation of collector current spreading of InGaAs SHBT with 75-nm-thick collector

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evaluation of collector current spreading of InGaAs SHBT with 75-nm-thick collector

著者

和文:	宮本恭幸, 高橋新之助, 小林嵩, 鈴木裕之, 古屋一仁.
英文:	YASUYUKI MIYAMOTO, Shinnosuke Takahashi, Takashi Kobayashi, Hiroyuki Suzuki, KAZUHITO FURUYA.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2009年6月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2009 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices（AWAD）

開催地

和文:
英文:	Busan, Korea