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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Scaling Analysis of Nanoelectromechanical Memory Devices 
著者
和文: 永見 佑, 土屋 良重, 内田 建, 水田 博, 小田 俊理.  
英文: T. Nagami, Y. Tsuchiya, K. Uchida, H. Mizuta, S. Oda.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Japanese Journal of Applied Physics 
巻, 号, ページ Vol. 49        in press
出版年月 2010年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
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開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1143/JJAP.49.044304

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