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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Interface trap level in top-contact pentacene thin-film transistors evaluated by displacement current measurement 
著者
和文: 鈴木 聖一, 安武 裕輔, 真島 豊.  
英文: Seiichi Suzuki, Yuhsuke Yasutake, Yutaka Majima.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Organic Electronics 
巻, 号, ページ Vol. 11    No. 4    pp. 594-598
出版年月 2010年4月 
出版者
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会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.1016/j.orgel.2009.12.020

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