Analysis of dependence of short-channel effects in double-gate MOSFETs on channel thickness

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis of dependence of short-channel effects in double-gate MOSFETs on channel thickness

著者

和文:	小林勇介, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, V.Rampogal Rao, 筒井一生, 岩井洋.
英文:	Yusuke Kobayashi, Kuniyuki KAKUSHIMA, Ahmet Parhat, V.Rampogal Rao, KAZUO TSUTSUI, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Microelectronics Reliability 50

巻, 号, ページ

pp. 332-337

出版年月

2010年3月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI