Temperature Dependences of Refractive Indices and Thickness of Polyimide Thin Films Measured by Optical Interferometry

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Temperature Dependences of Refractive Indices and Thickness of Polyimide Thin Films Measured by Optical Interferometry

著者

和文:	関口健治, 安藤慎治.
英文:	Kenji SEKIGUCHI, Shinji ANDO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	3rd AOTULE Postgraduate Symposium

巻, 号, ページ

出版年月

2009年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	3rd AOTULE Postgraduate Symposium

開催地

和文:
英文:	Taipei, Taiwan