An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information

著者

和文:	新谷道広, 上薗巧, 高橋知之, 植山寛之, 佐藤高史, 畠山一実, 相京隆, 益一哉.
英文:	Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Hiroyuki Ueyama, Takashi Sato, Kasumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Asian Test Symposium

巻, 号, ページ

pp. 151-156

出版年月

2009年11月

出版者

和文:
英文:	IEEE Asian Test Symposium

会議名称

和文:
英文:	IEEE Asian Test Symposium

開催地

和文:
英文:	Taichung,Taiwan

DOI