On the validity of bisection-based thru-only de-embedding

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	On the validity of bisection-based thru-only de-embedding

著者

和文:	関口貴之, 天川修平, 石原昇, 益一哉.
英文:	Takayuki Sekiguchi, Shuhei Amakawa, Noboru Ishihara, Kazuya Masu.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	2010 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS2010)

巻, 号, ページ

pp. 66 - 71

出版年月

2010年3月

出版者

和文:
英文:	2010 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS2010)

会議名称

和文:
英文:	2010 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS2010)

開催地

和文:
英文:	Hiroshima, Japan

ファイル

DOI