Effect of High Frequency Noise Current Sources on Noise Figure for Sub-50 nm Node MOSFETs

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Effect of High Frequency Noise Current Sources on Noise Figure for Sub-50 nm Node MOSFETs

著者

和文:	下村浩, 角嶋邦之, 岩井洋.
英文:	Hiroshi Shimomura, Kuniyuki KAKUSHIMA, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEICE TRANSACTIONS on Electronics

巻, 号, ページ

Vol. E93-C No. 5 pp. 678-684

出版年月

2010年5月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI