Characterization of flatband voltage roll-off and roll-up behavior in La2O3/silicate gate dielectric

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of flatband voltage roll-off and roll-up behavior in La2O3/silicate gate dielectric

著者

和文:	角嶋邦之, 小柳友常, 舘喜一, 宋在烈, パールハットアヘメト, 筒井一生, 杉井信之, 服部健雄, 岩井洋.
英文:	Kuniyuki KAKUSHIMA, Tomotsune Koyanagi, Kiichi Tachi, Jaeyeol Song, Ahmet Parhat, KAZUO TSUTSUI, Nobuyuki Sugii, takeo hattori, HIROSHI IWAI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Solid-State Electronics

巻, 号, ページ

Vol. 54 pp. 720-723

出版年月

2010年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI