A Note on Fault Testing for Reversible Circuits

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	A Note on Fault Testing for Reversible Circuits

著者

和文:	田湯智, 上野修一.
英文:	Satoshi Tayu, Shuichi UENO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of the 2010 IEICE General Conference

巻, 号, ページ

No. A-1-32

出版年月

2010年3月

出版者

和文:
英文:	Institute of Electronics, Information and Communication Engineers

会議名称

和文:
英文:	2010 IEICE General Conference

開催地

和文:
英文:	Tohoku Univ.