Universal Test Sets for Reversible Circuits

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Universal Test Sets for Reversible Circuits

著者

和文:	田湯智, Shota Fukuyama, 上野修一.
英文:	Satoshi Tayu, Shota Fukuyama, Shuichi UENO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Springer Verlarg, Lecture Notes in Computer Science

巻, 号, ページ

Vol. 6196 pp. 348-357

出版年月

2010年7月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	International Computing and Combinatorics Conference

開催地

和文:
英文:	Nha Trang, Vietnam

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DOI