Evaluation of a Multi-Line De-embedding Technique up to 110 GHz for Millimeter-Wave CMOS Circuit Design

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evaluation of a Multi-Line De-embedding Technique up to 110 GHz for Millimeter-Wave CMOS Circuit Design

著者

和文:	李寧, 松下幸太, 高山直輝, 岡田健一, 松澤昭.
英文:	Ning Li, Kota Matsushita, Naoki Takayama, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Science

巻, 号, ページ

Vol. E93-A No. 2 pp. 431-439

出版年月

2010年2月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI