Analysis of Phase Noise Degradation Considering Switch Transistor Capacitances for CMOS Voltage Controlled Oscillators

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Analysis of Phase Noise Degradation Considering Switch Transistor Capacitances for CMOS Voltage Controlled Oscillators

著者

和文:	村上塁, 原翔一, 岡田健一, 松澤昭.
英文:	Rui Murakami, Shoichi Hara, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEICE Transactions on Electronics

巻, 号, ページ

Vol. E93-C No. 6 pp. 777-784

出版年月

2010年6月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI