Probing carrier injection into pentacene field effect transistor by time-resolved microscopic optical second harmonic generation measurement

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Probing carrier injection into pentacene field effect transistor by time-resolved microscopic optical second harmonic generation measurement

著者

和文:	中尾元春, 間中孝彰, Weis Martin, LimEun, 岩本光正.
英文:	Motoharu Nakao, Takaaki Manaka, Martin Weis, Eun Ju Lim, MITSUMASA IWAMOTO.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 106 No. 1 pp. 14511

出版年月

2009年8月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI