Interface Charging Propagation Model for Carrier Migration in OFET

論文・著書情報

タイトル

和文:	Interface Charging Propagation Model for Carrier Migration in OFET
英文:	Interface Charging Propagation Model for Carrier Migration in OFET

著者

和文:	Weis Martin, 田口大, LIN JACK, 間中孝彰, 岩本光正.
英文:	M. Weis, D. Taguchi, J. Lin, T. Manaka, M. Iwamoto.

言語

English

掲載誌/書名

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巻, 号, ページ

出版年月

2009年9月

出版者

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会議名称

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英文:	2009 International Conference on Solid State Device and Materials (SSDM 2009)

開催地

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