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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Loss Measurement of Multiple Layer a-Si Waveguides 
著者
和文: 姜晙炫, 井上敬太, 渥美裕樹, 西山伸彦, 荒井滋久.  
英文: JoonHyun Kang, Keita Inoue, Yuki Atsumi, Nobuhiko Nishiyama, SHIGEHISA ARAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ Tokyo    D-8-2   
出版年月 2010年8月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:SSDM 
開催地
和文: 
英文:The University of Tokyo, Tokyo, Japan 
公式リンク http://www.ssdm.jp/
 
アブストラクト The relationship between the propagation loss and surface roughness in multilayered a-Si waveguides has been investigated.The propagation loss was significantly affected by the top-surface roughness rather than the material absorption of a-Si.

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