Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Observation of Tunneling FET operation in MOSFET with NiSi/Si Schottky source/channel interface 
著者
和文: 呉 研, 茂森直登, 佐藤創志, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, 筒井一生, 杉井信之, 西山彰, 名取研二, 服部健雄, 岩井洋.  
英文: Y. Wu, Naoto Shigemori, Soshi Sato, Kuniyuki KAKUSHIMA, Ahmet Parhat, KAZUO TSUTSUI, Nobuyuki Sugii, 西山彰, KENJI NATORI, takeo hattori, HIROSHI IWAI.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2010年10月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:ECS 218th Meeting 
開催地
和文: 
英文:Las Vegas, USA 

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.