Highly Reliable and Drivability-Enhanced MOS Transistors with Rounded Nanograting Channels

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Highly Reliable and Drivability-Enhanced MOS Transistors with Rounded Nanograting Channels

著者

和文:	伊藤隆司, 朱小莉, 黒木伸一郎, 小谷光司.
英文:	Takashi ITO, Xiaoli ZHU, Shin-Ichiro KUROKI, Koji KOTANI.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEICE TRANCE. ELECTRON.

巻, 号, ページ

Vol. E93-C No. 11 pp. 1638-1644

出版年月

2010年11月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

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DOI