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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:A thru-only de-embedding method for on-wafer characterization of multiport networks 
著者
和文: 天川 修平, 石原 昇, 益 一哉.  
英文: Shuhei Amakawa, Noboru Ishihara, Kazuya Masu.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Advanced Microwave Circuits and Systems 
巻, 号, ページ         pp. 13-32
出版年月 2010年4月 
出版者
和文: 
英文:InTech 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
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英文: 
ファイル

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