Accuracy Investigation of the De-embedding Technique using Open and Short Patterns for On-Wafer RF Characterization

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Accuracy Investigation of the De-embedding Technique using Open and Short Patterns for On-Wafer RF Characterization

著者

和文:	平野拓一, 岡田健一, 廣川二郎, 安藤真.
英文:	Takuichi Hirano, Kenichi Okada, Jiro Hirokawa, Makoto Ando.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of Asia-Pacific Microwave Conference

巻, 号, ページ

pp. 1436-1439

出版年月

2010年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	Asia-Pacific Microwave Conference

開催地

和文:
英文:	Yokohama, Japan