Thru-Line (TL) Calibration Technique for On-Wafer Measurement

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Thru-Line (TL) Calibration Technique for On-Wafer Measurement

著者

和文:	平野拓一, 岡田健一, 廣川二郎, 安藤真.
英文:	Takuichi Hirano, Kenichi Okada, Jiro Hirokawa, Makoto Ando.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of International Symposium on Antennas and Propagation

巻, 号, ページ

出版年月

2010年11月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	International Symposium on Antennas and Propagation

開催地

和文:
英文:	Macao