Evaluation of a Multi-line De-embedding Technique for Millimeter-Wave CMOS Circuit Design

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Evaluation of a Multi-line De-embedding Technique for Millimeter-Wave CMOS Circuit Design

著者

和文:	卜慶紅, 李寧, 文仙啓吾, 浅田大樹, 松下幸太, 岡田健一, 松澤昭.
英文:	Qing-Hong Bu, Ning Li, Keigo Bunsen, Hiroki Asada, Kota Matsushita, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2010年12月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC)

開催地

和文:
英文:	"Yokohama,Japan"