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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:"Test Structures for Millimeter-Wave CMOS Circuit Design"(tutorial) 
著者
和文: 岡田健一.  
英文: Kenichi Okada.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         pp. 119-160
出版年月 2010年3月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 
開催地
和文: 
英文:Hiroshima, Japan 

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