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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Measurement of Integrated PA-to-LNA Isolation on Si CMOS Chip 
著者
和文: 南 亮, 洪 芝英, 岡田 健一, 松澤 昭.  
英文: Ryo Minami, JeeYoung Hong, Kenichi Okada, Akira Matsuzawa.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IEICE Transactions on Electronics 
巻, 号, ページ Vol. E94-C    No. 6    pp. 1057-1061
出版年月 2011年6月 
出版者
和文: 
英文:IEICE 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.1587/transele.E94.C.1057

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