English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Numerical and Experimental Analysis of Intermittent Line-and-Space Patterns in Thermal Nanoimprint
著者
和文:
大西 有希
,
高木秀樹
, Y.Hirai, M, Takahashi, R.Maeda, T.Tanabe, Y.Iriye.
英文:
Y.Onishi
,
高木秀樹
, Y.Hirai, M, Takahashi, R.Maeda, T.Tanabe, Y.Iriye.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
巻, 号, ページ
出版年月
2007年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
20th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC)
開催地
和文:
英文:
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.