Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Influence of Schottky Interfaces on Dielectric Properties in Perovskite-Type Oxide Thin-Film Capacitors 
著者
和文: 堀内 尚紘, 保科 拓也, 武田 博明, 鶴見 敬章.  
英文: Naohiro Horiuchi, Takuya Hoshina, Hiroaki Takeda, Takaaki Tsurumi.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:Key Engin. Mater. 
巻, 号, ページ Vol. 485        pp. 203-206
出版年月 2011年3月1日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
DOI https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/KEM.485.203

©2007 Institute of Science Tokyo All rights reserved.