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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:"Can FinFET/FDSOI Compensate for the Stagnation in Scaling?,"(Rump session)(invited) 
著者
和文: 岡田 健一.  
英文: Kenichi Okada.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2011年6月14日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:IEEE Symposium on VLSI Technology 
開催地
和文: 
英文:Kyoto 

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