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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Reduction of Access Resistance of InP/InGaAs Composite-Channel MOSFET with A Back Source Electrode 
著者
和文: 加藤 淳, 金澤 徹, 池田 俊介, 米内 義晴, 宮本恭幸.  
英文: A. Kato, T. Kanazawa, S. Ikeda, Y. Yonai, YASUYUKI MIYAMOTO.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2011年9月14日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:2011 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices(AWAD) 
開催地
和文: 
英文:Daejeon 
公式リンク http://astl.hongik.ac.kr/awad2011/home.html
 

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