Active Clamping Circuit to Suppress Switching Stress on a MOS-Gate-Structure-Based Power Semiconductor for Pulsed-Power Applications

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Active Clamping Circuit to Suppress Switching Stress on a MOS-Gate-Structure-Based Power Semiconductor for Pulsed-Power Applications

著者

和文:	Bongseong Kim, Heung-Jin Ju, 高光哲, 堀田栄喜.
英文:	Bongseong Kim, Heung-Jin Ju, Kwang-Cheol Ko, Eiki Hotta.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	IEEE Trans. on Plasma Science

巻, 号, ページ

Vol. 39 No. 8 pp. 1736-1742

出版年月

2011年8月10日

出版者

和文:
英文:	IEEE

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI