Data Disturbance-free NAND-type Ferroelectric-gate Thin Film Transistor Array using Sol-gel ITO and Stacked (BLT/PZT) Gate Insulator

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Data Disturbance-free NAND-type Ferroelectric-gate Thin Film Transistor Array using Sol-gel ITO and Stacked (BLT/PZT) Gate Insulator

著者

和文:	Bui Nguyen Quoc Trinh, 宮迫毅明, 金田敏彦, Pham Van Thanh, Phan Trong Tue, 徳光永輔, 下田達也.
英文:	Bui Nguyen Quoc Trinh, Takaaki Miyasako, Toshihiko Kaneda, Pham Van Thanh, Phan Trong Tue, Eisuke Tokumitsu, Tatsuya Shimoda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2011年9月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	2011 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2011)

開催地

和文:
英文:	Nagoya