高精度MOSFETモデルを用いた損失・ノイズ評価への基礎的検討

論文・著書情報

タイトル

和文:	高精度MOSFETモデルを用いた損失・ノイズ評価への基礎的検討
英文:	Investigation of noise and switching-energy loss by using a precise MOSFET model

著者

和文:	岩田恭彰, 冨永真志, 藤田英明, 赤木泰文, 堀口剛司, 木ノ内伸一, 大井健史, 漆畑廣明.
英文:	Yasuaki Iwata, Shinji Tominaga, Hideaki Fujita, Hirofumi Akagi, 堀口剛司, 木ノ内伸一, 大井健史, hiroaki urushibata.

言語

Japanese

掲載誌/書名

和文:	電気学会産業応用部門大会
英文:	IEEJ Japan Industry Application Society Conference

巻, 号, ページ

Vol. 1 no. 1-135 pp. 615-618

出版年月

2011年9月8日

出版者

和文:	電気学会
英文:	Institute of Electrical Engineering in Japan

会議名称

和文:	産業応用部門大会
英文:	Industry Application Society Conference

開催地

和文:	琉球大学
英文:	Shibaura Institute of Technology