Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文:デバイスシミュレーションによるGaN HEMTのゲートリークの解析 
英文: 
著者
和文: 山口裕太郎, 大石敏之, 大塚浩志, 山中宏治, 南條拓真, 中山正敏, 平野嘉仁, 宮本恭幸.  
英文: Yuutarou Yamaguchi, 大石敏之, 大塚浩志, 山中宏治, 南條拓真, 中山正敏, 平野嘉仁, YASUYUKI MIYAMOTO.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ        
出版年月 2012年3月26日 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:電子情報通信学会2011年総合大会 
英文: 
開催地
和文:岡山 
英文: 

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.