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論文・著書情報


タイトル
和文:ログアンプとリニアアンプの併用による超音波探傷試験 
英文: 
著者
和文: 笹原利彦, 井上裕嗣, 黒川悠.  
英文: Toshihiko SASAHARA, Hirotsugu INOUE, Yu KUROKAWA.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文:非破壊検査 
英文:Journal of the Japanese Society for Non-Destructive Inspection 
巻, 号, ページ Vol. 61    No. 9    pp. 495-501
出版年月 2012年9月1日 
出版者
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会議名称
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開催地
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DOI https://doi.org/10.11396/jjsndi.61.495

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