Accuracy Investigation of De-embedding Techniques Based on Electromagnetic Simulation for On-wafer RF Measurements

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Accuracy Investigation of De-embedding Techniques Based on Electromagnetic Simulation for On-wafer RF Measurements

著者

和文:	平野拓一, 岡田健一, 廣川二郎, 安藤真.
英文:	T. Hirano, K. Okada, J. Hirokawa, M. Ando.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	InTech Open Access Book, Numerical Simulation - From Theory to Industry

巻, 号, ページ

pp. 233-258

出版年月

2012年9月19日

出版者

和文:
英文:

会議名称

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開催地

和文:
英文: