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論文・著書情報


タイトル
和文:回折格子を用いた光学ひずみゲージ測定法 
英文: 
著者
和文: 岸本洋平, 天谷賢治, 大西有希, 岡田和佳.  
英文: Yohei Kishimoto, KENJI AMAYA, YUKI ONISHI, Kazuyoshi Okada.  
言語 Japanese 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         p. 59~62
出版年月 2012年10月 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文:日本非破壊検査協会 秋季講演大会 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 

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