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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Degradation Mechanism in Low-Temperature P-Channel Polycrystalline Silicon TFTs under Dynamic Stress 
著者
和文: 波多野睦子.  
英文: Mutsuko Hatano.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文: 
巻, 号, ページ         729-730
出版年月 2006年 
出版者
和文: 
英文: 
会議名称
和文: 
英文:IEEE Int. Reliability Physics Symposium 2006 
開催地
和文: 
英文:San Jose 

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