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論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:A model for Predicting On-current Degradation caused by Drain-avalanche Hot Carriers in Low-temperature Polysilicon Thin-film Transistors 
著者
和文: 波多野睦子.  
英文: Mutsuko Hatano.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:IEEE transactions on Electron Devices 
巻, 号, ページ 56        109-115
出版年月 2009年 
出版者
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会議名称
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開催地
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