Home >

news ヘルプ

論文・著書情報


タイトル
和文: 
英文:Secondary Resonance Magnetic Force Microscopy 
著者
和文: 田中傑, 東康男, 真島豊.  
英文: Suguru Tanaka, Yasuo Azuma, YUTAKA MAJIMA.  
言語 English 
掲載誌/書名
和文: 
英文:J. Appl. Phys. 
巻, 号, ページ Vol. 111        p. 084312
出版年月 2012年4月23日 
出版者
和文: 
英文:American Institute of Physics 
会議名称
和文: 
英文: 
開催地
和文: 
英文: 
ファイル
DOI https://doi.org/10.1063/1.4705400
アブストラクト In this study, we have developed secondary resonance magnetic force microscopy (SR-MFM) for imaging alternating magnetic fields from a sample surface at the secondary resonant frequency of the magnetic cantilever at the same time as the topographic image. SR-MFM images of alternating magnetic fields diverging from the main pole in a driving perpendicular magnetic recording head are presented, and the divergence and convergence of the fields are discussed. The spatial resolution of SR-MFM is estimated to be 18 nm; this is 2.5 times smaller than that of conventional MFM.

©2007 Tokyo Institute of Technology All rights reserved.