Approximate Evaluation of Effective Permittivity for Metal Dummies in a CMOS Chip Using Electrostatic Capacitor Model

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Approximate Evaluation of Effective Permittivity for Metal Dummies in a CMOS Chip Using Electrostatic Capacitor Model

著者

和文:	平野拓一, 岡田健一, 廣川二郎, 安藤真.
英文:	Takuichi Hirano, Kenichi Okada, Jiro Hirokawa, Makoto Ando.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 1181-1183

出版年月

2013年4月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE European Conference on Antennas and Propagation

開催地

和文:
英文:	Gothenburg