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論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Degradation Mechanism of PEMFC under Open Circuit Operation, Electrochemical and Solid-State Letters
著者
和文:
寺西 一浩
, K. Kawata,
津島 将司
,
平井 秀一郎
.
英文:
K. Teranishi
, K. Kawata,
S. Tsushima
,
S. Hirai
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
Electrochemical and Solid-State Letters
巻, 号, ページ
Vol. 9 No. 10 pp. A475-A477
出版年月
2006年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
©2007
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