Thermal-Aware Device Design of Nanoscale Bulk/SOI FinFETs: Suppression of Operation Temperature and Its Variability

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Thermal-Aware Device Design of Nanoscale Bulk/SOI FinFETs: Suppression of Operation Temperature and Its Variability

著者

和文:	高橋綱己, 別府伸耕, K. Chen, 小田俊理, 内田建.
英文:	T. Takahashi, N. Beppu, K. Chen, S. Oda, K. Uchida.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

pp. 809-812

出版年月

2011年

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEDM 2011

開催地

和文:
英文:	Washington DC