Characterization and suppression of low-frequency noise in Si/SiGe quantum point contacts and quantum dots

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization and suppression of low-frequency noise in Si/SiGe quantum point contacts and quantum dots

著者

和文:	K. Takeda, T. Obata, 福岡佑二, W. M. Akhtar, 神岡純, 小寺哲夫, 小田俊理, S. Tarucha.
英文:	K. Takeda, T. Obata, Y. Fukuoka, W. M. Akhtar, J. Kamioka, T. Kodera, S. Oda, S. Tarucha.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Appl. Phys. Lett

巻, 号, ページ

Vol. 102 pp. 123113 (3 pages)

出版年月

2013年3月

出版者

和文:
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会議名称

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開催地

和文:
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DOI