【重要】T2R2・STARSearchの停止と後継システムについて English

Home > ヘルプ 論文・著書情報 タイトル 和文:   英文: Depth Profiling of As with Various Chemical Bonding States Doped in Si Shallow Junction by Using Soft X-ray Photoelectron Spectroscopy  著者 和文: 金原潤, 武井裕介, 宮田陽平, 野平博司, Y. Izumi, 室隆桂之, 木下豊彦, パールハットアヘメト, 角嶋邦之, 筒井一生, 服部健雄, 岩井洋.   英文: Jun Kanehara, Yusuke Takei, Youhei Miyata, Hiroshi Nohira, Y. Izumi, TAKAYUKI MURO, 木下豊彦, パールハットアヘメト, Kuniyuki KAKUSHIMA, KAZUO TSUTSUI, takeo hattori, HIROSHI IWAI.   言語 English  掲載誌/書名 和文:   英文:   巻, 号, ページ         出版年月 2013年  出版者 和文:   英文:   会議名称 和文:   英文: G-COE PICE International Symposium and IEEE EDS Minicolloquium on Advanced Hybrid Nano Devices: Prospects by World’s Leading Scientists  開催地 和文: 東京  英文:

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