English
Home
各種検索
研究業績検索
論文・著書検索
( 詳細検索 )
特許検索
( 詳細検索 )
研究ハイライト検索
( 詳細検索 )
研究者検索
組織・担当から絞り込む
サポート
よくあるご質問(FAQ)
T2R2登録申請
学位論文登録について
組織単位データ出力について
(学内限定)
サポート・問合せ
T2R2について
T2R2とは?
運用指針
リーフレット
本文ファイルの公開について
関連リンク
東京科学大学
東京科学大学STARサーチ
国立情報学研究所(学術機関リポジトリ構築連携支援事業)
Home
>
ヘルプ
論文・著書情報
タイトル
和文:
英文:
Low-frequency noise reduction in Si Nanowire MOSFETs
著者
和文:
大毛利健治
,
W. Feng
,
R. Hettiarachchi
,
李映勲
,
佐藤創志
,
角嶋邦之
,
M. Sato
,
K. Fukuda
,
M. Niwa
,
K. Yamabe
,
白石賢二
,
岩井洋
,
山田啓作
.
英文:
大毛利健治
,
W. Feng
,
R. Hettiarachchi
,
Yeonghun Lee
,
Soshi Sato
,
Kuniyuki KAKUSHIMA
,
M. Sato
,
K. Fukuda
,
M. Niwa
,
K. Yamabe
,
Kenji Shiraishi
,
HIROSHI IWAI
,
Keisaku Yamada
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
英文:
ECS Transactions
巻, 号, ページ
Vol. 45 No. 3 pp. 437-442
出版年月
2012年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
ECS 221st Meeting
開催地
和文:
英文:
WA
DOI
https://doi.org/10.1149/1.3700909
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.