Methodology for Evaluating Operation Temperatures of Fin-Type Field-Effect Transistors Connected by Interconnect Wires

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Methodology for Evaluating Operation Temperatures of Fin-Type Field-Effect Transistors Connected by Interconnect Wires

著者

和文:	高橋綱己, 小田俊理, 内田建.
英文:	Tsunaki Takahashi, Shunri Oda, Ken Uchida.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Japanese Journal of Applied Physics

巻, 号, ページ

Vol. 52 pp. 064203 (7 pages)

出版年月

2013年5月22日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI